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環(huán)境試驗箱需要的幾種調試

    小編給大家介紹一下對環(huán)境試驗箱進行校準的3種方法以及優(yōu)缺點:
環(huán)境試驗箱需要的幾種調試
    1、在有負載條件校準:
 
    此方法的優(yōu)點是:能夠比較準確地評估測試樣品對環(huán)境試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。而它的主要缺點是:當更換測試樣品時,需要重新校準。
 
    2、在無負載條件校準
 
    此方法的優(yōu)點是:環(huán)境試驗箱的整個工作區(qū)域都得到了校準、能夠對試驗箱的適用性做出有效的評估。而它的主要缺點是:不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。
 
    3、在使用過程中的時實測量
 
    此方法的優(yōu)點是:不僅具有和上述的方法具有的優(yōu)點。而且能夠得到測試樣品在環(huán)境過程中全面的環(huán)境參數(shù),往往在對環(huán)境的要求很高的產品試驗時采用。它的主要缺點是:每次環(huán)境試驗都需要使用測量設備,通常在試驗箱校準時采用無負載條件下的校準方法。

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